企業セミナー
プロに学ぶ表面形状観察及び分析　【PDF】
　学内・学外対象（無料）

日時　6月6日（金曜日）　13：00-15：00
場所　理系複合棟102室

講師　アルバック・ファイ株式会社
　　　　　星　孝弘　氏
　　　　株式会社ニコンインストルメンツカンパニー
　　　　　西川　孝　氏

内容
13：00-　X線電子分光分析の原理と基礎
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　14：00-　非接触三次元表面形状計測機の紹介
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　詳細はPDFから

参加予約方法　（予約締切りは６/５木曜15：00まで　以降は会場にて直接受付）
　下記アドレスの予約フォームより参加予約を行ってください。

   http://irc1.lab.u-ryukyu.ac.jp/?page_id=92